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Diffraction des rayons X sur matériaux polycristallins - Méthodes Rietveld et Le Bail

CNRS Formation Entreprises
Résumé
4 Jours
2 000 EUR hors taxes
Formation Professionnelle
Prochaine session : 22/11/2022 - Le Mans
En centre de formation

Description de la formation

Découvrez la formation Diffraction des rayons X sur matériaux polycristallins - Méthodes Rietveld et Le Bail proposée par Le CNRS et formez-vous avec des professionnels du secteur ! En vous formant avec Le CNRS vous aborderez les thématiques suivantes : Physique, Science. Pour en savoir plus, n'hésitez pas à contacter directement l'organisme à l'aide du formulaire de contact présent sur cette page.

Objectifs visés

- Savoir réaliser des affinements type Rietveld et Le Bail
- Savoir mettre en oeuvre des mesures de diffraction sur des composés organiques ou inorganiques

Contenu

La méthode Rietveld est une technique d'affinement de profil global qui dépend notamment de la structure atomique. La technique Le Bail, indépendante du modèle structural, est focalisée sur le profil de diffraction et de ce fait, est plus particulièrement utilisée en analyse microstructurale.

Cours (4 h)
- Rappel des notions de cristallographie
- Aspect théorique de la diffraction sur poudre
- Principe de la mesure des diagrammes de diffraction : méthodes Rietveld et Le Bail

Travaux pratiques (20 h)
- Acquisition (2 h) :
. présentation générale d'un diffractomètre de rayons X sur poudre dans les modes transmission pour les composés organiques et réflexion pour les composés inorganiques
. préparation d'échantillons et réalisation de différentes mesures
- Traitement Rietveld et Le Bail (18 h) : traitement de diagrammes de diffraction X sur poudre de :
. composé monophasé inorganique
. mélange simple de composés inorganiques (analyse quantitative)
. mélange complexe (orientation préférentielle, quantification de phase amorphe, problématique de micro-absorption...)

Public Cible


Chercheurs, ingénieurs, techniciens travaillant en analyse structurale ou en analyse quantitative ou en analyse des tailles de grains et micro-contraintes

Prérequis


Notions de cristallographie : périodicité, système cristallin, réseau de Bravais, groupe d'espace

Moyens Pédagogiques


Diffractomètre Empyrean (PANalytical), logiciels d'exploitation Fullprof (logiciel libre de droit) et HighScorePlus (PANalytical). Il est demandé aux stagiaires de venir avec leur ordinateur portable avec un des deux logiciels pré-installé.

Informations pratiques

De 2 à 4 stagiaires

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Contact

CNRS Formation Entreprises

Avenue de la Terrasse
91190 Gif-sur-Yvette Cedex

 Afficher le numéro
cnrsformation.cnrs.fr

Organisme de formation: CNRS Formation Entreprises

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