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XPS : les fondamentaux

CNRS Formation Entreprises
Résumé
3 Jours
1 200 EUR
Particuliers (Inter)

Objectifs visés

- Comprendre la technique de caractérisation de surface par spectroscopie de photoélectrons X (XPS)
- Avoir les clés pour mettre en place un protocole expérimental en fonction de la problématique et des échantillons pour XPS et l'érosion ionique
- Savoir identifier la quinzaine de processus observables dans un spectre XPS et/ou une image
- Savoir faire une quantification élémentaire à l'aide du logiciel de traitement de données
- Comprendre les différents types d'incertitudes
- Savoir déterminer l'environnement chimique d'un atome
- Savoir faire l'analyse de base des images XPS

Contenu

Cours (9 h)
- Présentation de la caractérisation de surface
- Description des appareillages de mesure
- Principe du processus XPS
- Analyse des données
- Profil d'analyse chimique par érosion ionique

Travaux dirigés (6 h)
- Identification et quantification élémentaire
- Détermination et quantification d'environnement chimique
- Profil de concentration
- Incertitude statistique pour quantification élémentaire et quantification des environnements chimiques

Public Cible

Ingénieurs et techniciens supérieurs

Afin d'adapter le contenu du stage aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable ICI devra être complété et renvoyé au moment de l'inscription.

Prérequis

Bac + 2 scientifique minimum

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Contact

CNRS Formation Entreprises

Avenue de la Terrasse
91190 Gif-sur-Yvette Cedex

 Afficher le numéro
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